Физика точечного контакте металл-полупроводник.

Main
Физика точечного контакте...

Физика точечного контакте металл-полупроводник.

Поклонский Н.А. и др.

0 / 0

Насколько вам понравилась эта книга?

Какого качества скаченный файл?

Скачайте книгу, чтобы оценить ее качество

Какого качества скаченные файлы?

Год:

2003

Издательство:

БГУ

Язык:

russian

ISBN 10:

9854850692

ISBN 13:

9789854850696

Файл:

PDF, 560 KB

IPFS:

,

russian, 2003

Читать Онлайн

Скачать (pdf, 560 KB)

Выполняется конвертация в

Конвертация в не удалась

Вас может заинтересовать

Шалимова К.В. — Физика полупроводников

Волкова Е. В., Пузанов А. С., Оболенский С. В., Тарасова Е. А. — Введение в физику полупроводниковых диодов и методы их проектирования с использованием высокопроизводительных вычислений: Учебное пособие

Тарасова Е. А., Пузанов А. С., Волкова Е. В., Оболенский С. В., Оболенская Е. С. — Введение в физику транзисторов: Учебное пособие

Кужир, П. Г. — Термоэлектронная эмиссия

Потачиц, В. А.Кужир, П. Г.Савчук, Г. К. — Изучение явления термоэлектронной эмиссии

В. А. Гуртов — Твердотельная электроника: Учеб. пособие

Березин, В. М. — Физические основы твердотельной электроники и наноэлектроники

Дорохин М. В., Здоровейщев А. В. — Диод Шоттки на основе GaAs: технология получения и диагностика: Электронное учебно-методическое пособие

Белов П. А., Емельянов Н. А. — Физика конденсированного состояния: Учебное пособие

Вострецова Л. Н., Иго А. В., Соловьев А. А. — Физические основы продукции высокотехнологичного производства

Коллектив авторов — Электричество и магнетизм. Лабораторная работа № 7. Исследование температурной зависимости контактной разности потенциалов в металлах

Дьяченко А.Т., Флоринский В.Ю. — Определение электродвижущей силы фотоэлемента с запирающим слоем : Методические указания к лабораторной работе № 312

Е. И. Иванова, И. А. Обухова, В. С. Мишаков — Электричество и магнетизм. Лабораторная работа № 7. Исследование температурной зависимости контактной разности потенциалов в металлах

Вострецова Л. Н., Иго А. В., Соловьев А. А. — Физические основы продукции высокотехнологичного производства

Белов П. А., Емельянов Н. А. — Физика конденсированного состояния: Учебное пособие

Дорохин М. В., Здоровейщев А. В. — Диод Шоттки на основе GaAs: технология получения и диагностика: Электронное учебно-методическое пособие

Митрофанов О.В. и др. — Физические основы функционирования изделий микроэлектроники

Стриха.В. — Контактные явления в полупроводниках

Зи С.М. — Физика полупроводниковых приборов

Митрофанов О.В. и др. — Микроэлектроника

Ригер Е.Р. — Физика полупроводников: Сборник лабораторных работ

Гуревич, Юрий Яковлевич;Плесков, Юрий Викторович;авт — Фотоэлектрохимия полупроводников

Поляков А.М. — Разгаданный полупроводник

Шевченко О.Ю. — Основы физики твердого тела

Мамыкин А.И., Рассадина А.А. — Контактные явления в полупроводниках. Учебно-методическое пособие по курсу «Физические основы электроники». Часть 2

Митяшев Б.Н. — Электронные приборы

Игумнов В.Н. — Физические основы микроэлектроники

Ткачева Т.М. — Основы полупроводниковой техники и ее применение в автотранспортном комплексе

Тырышкин И.С. — Основы полупроводниковой электроники

Шкаев А.Г. — Твердотельная электроника: конспект лекций

Михайлов А.В., Родионов М.Г., Новиков С.М. — Физические основы электроники: Пассивные компоненты электронных устройств

Ильин В.И., Мусихин С.Ф., Шик А.Я. — Варизонные полупроводники и гетероструктуры

Титов В.Н. — Исследование вакуумного цилиндрического диода с термокатодом. Учебно-методическое пособие

Мамедов Р.К. — Контакты Металл-Полупроводник с Электрическим Полем Пятен

Гасанли Ш.М., Мурсакулов Н.Н., и др. — Особенности механизмов проводимости в гетероструктурах Si/олиго-β-нафтол/металл

Ключевые слова

полупроводник

электронов

полупроводника

контакта

проводимости

электрического

поклонский

потенциалов

горбачук

напряжения

электроника

разность

состояний

полупроводнике

концентрация

смещения

сопротивление

измерения

электронами

контактов

напряжение

поверхности

потенциал

разности

валентной

внешнего

измерений

объемного

состояния