Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
Рабинович О.И., Крутогин Д.Г.
В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы». Предназначен для студентов, обучающихся по направлению 210100 в качестве бакалавров, инженеров и магистров, при выполнении лабораторных работ, подготовке дипломных работ и магистерских диссертаций.;Гриф:Рекомендовано редакционно-издательским советом университета
Год:
2013
Издательство:
Издательство "МИСИС"
Язык:
russian
Страницы:
42
ISBN 10:
5876237108
ISBN 13:
9785876237101
Файл:
PDF, 2.10 MB
IPFS:
,
russian, 2013
Litres
Хотите добавить книжный магазин? Свяжитесь с нами по support@z-lib.do
Конвертируйте файлы
Больше результатов поиска
Другие преимущества 
